ROHS 无卤分析仪、镀层测厚分析仪、合金分析
成熟技术、快速无损、设计方便、多种语言
主要应用于电子电器、五金冲压、包装塑料等各类产品的ROHS、无卤检测。
189-6621-7234
606 X荧光光谱仪
ROHS 无卤分析仪、镀层测厚分析仪、合金分析
成熟技术、快速无损、设计方便、多种语言
主要应用于电子电器、五金冲压、包装塑料等各类产品的ROHS、无卤检测。
产品介绍：
1.采用原装电致冷高性能Si-PIN探测器，分辨率高，探测范围广，涵盖RoHS、卤素、镀层、合金（含贵金属）及各种常规材料分析的基本要求。
2.配置先进的DPP数字多道信号集成处理器，比普通模拟多道信号处理器性能佳，尤其在高计数率时分辨率高（如Hg和CI等），高达80MHz的数据传输速度使分析时间变短，尤其在测量重复性和长期稳定性上有提高。
3.内置高清摄像系统，清晰观察样品，准确定位样品测试区域。
4. 配套FP测量软件，集成多种谱图处理算法和基体校正算法，有效降低仪器测量中的各种干扰谱峰，使低含量和痕量元素的检测结果趋近准确，更加接近真值水平。
主要应用于电子电器、五金冲压、包装塑料等各类产品的ROHS、无卤检测。
探测器 | Amptek Si-PIN探测器，高速脉冲分析系统 |
高压电源 | Spellman 50w（50kv/MA） |
X射线管 | 50w侧窗铍窗型X射线管 |
能量分辨率 | 149ev |
元素分析范围 | 硫（S）-铀（U） |
测量时间 | 60-300S |
测量含量范围 | 1ppm-99.9% |
交流220v供电设备 | 1KVA交流净化稳压电源 |
工作温度 | 10-30°C |
测量条件 | 大气环境 |
服务热线：189-6621-7234
传真号码：189-6621-7234
QQ：359023093
邮箱：18966217234@163.com
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